蘋(píng)果公開(kāi)承認(rèn)iPhone 6/6 Plus設(shè)計(jì)有缺陷！

　　蘋(píng)果公開(kāi)承認(rèn)iPhone 6/6 Plus設(shè)計(jì)有缺陷！蘋(píng)果就是這樣，出了問(wèn)題都表現(xiàn)很霸氣，現(xiàn)在他們公開(kāi)承認(rèn)，iPhone 6、6 Plus存在設(shè)計(jì)缺陷。

　　大家應(yīng)該還記得，之前iPhone 6系列出現(xiàn)的手機(jī)屏幕頂端出現(xiàn)閃爍的灰色橫條，觸摸屏沒(méi)法使用的情況吧，經(jīng)過(guò)專業(yè)拆解網(wǎng)站iFixit拆解后發(fā)現(xiàn)，設(shè)計(jì)缺陷導(dǎo)致會(huì)出現(xiàn)Touch Disease的問(wèn)題。

　　具體來(lái)說(shuō)就是，在iPhone 6/6 Plus中，Touch IC芯片是通過(guò)一系列很小的焊錫球連接到邏輯板的，若手機(jī)在使用過(guò)程中稍微彎曲，這些焊錫球可能就會(huì)出現(xiàn)裂縫，連接不到邏輯板，造成此“Touch Disease”問(wèn)題，再簡(jiǎn)單點(diǎn)來(lái)說(shuō)就是，iPhone 6/6 Plus機(jī)身稍微彎曲，手機(jī)就罷工。

　　蘋(píng)果對(duì)此回應(yīng)稱，底部填充技術(shù)被用來(lái)防止芯片的性能受到手機(jī)彎曲等外界因素影響，所以這不是什么問(wèn)題，但有趣的是，他們還是在2016年5月通過(guò)改進(jìn)生產(chǎn)工藝解決了此Touch Disease問(wèn)題。

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